北京時(shí)代儀器售后維修中心
地址 : 北京市海淀區(qū)清河安寧莊東路18號(hào)2號(hào)樓
電話 : 13366610633、010-62959511

10.3 儀器及探頭
10.3.1 超聲波測(cè)厚儀的精度應(yīng)達(dá)到±(T％十0．1)mm，T為壁厚。
10.3.2 超聲測(cè)厚通常采用直接接觸式單晶直探頭，也可采用帶延遲塊的單晶直探頭和雙晶直探頭。
10.3.3 高溫試件的壁厚測(cè)定需用特殊高溫探頭。
10.4 校正試塊
10.4.1 試塊的基本要求和尺寸見(jiàn)圖10—1。
10.4.2 測(cè)定曲面工件厚度時(shí)，應(yīng)使用同一曲率的試塊，或者對(duì)平面試塊加以修正。
10.5 耦合劑
應(yīng)根據(jù)被測(cè)件的表面狀況及聲阻抗，選用無(wú)氣泡、粘度適宜的耦臺(tái)劑，如甘油、機(jī)油、硅膠、水玻璃和漿糊等。若工件表面粗糙，則應(yīng)選擇比較稠的耦臺(tái)劑。
10.6 儀器校正
10.6.1 超聲波測(cè)厚儀的校正
a. 采用臺(tái)階試塊，分別在厚度接近待測(cè)厚度的*大值和待測(cè)厚度的*小值(或待測(cè)厚度*大值的1／2)進(jìn)行校正。
b.將探頭置于較厚試塊上，調(diào)整“聲速校正”旋鈕，使測(cè)厚儀顯示讀數(shù)接近已知值。
c.將探頭置于較薄的試塊上，調(diào)整“零位校正”旋紐，使測(cè)厚儀顯示讀數(shù)接近已知值。